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ANSI/TIA/EIA 455-128-1996 半导体激光器阈值电流的测定程序
世界资料网 / 2019-11-14
【英文标准名称】: Procedures for Determining Threshold Current of Semiconductor Lasers
【原文标准名称】: 半导体激光器阈值电流的测定程序
【标准号】: ANSI/TIA/EIA 455-128-1996
【标准状态】: 现行
【国别】: 美国
【发布日期】: 1996
【实施或试行日期】:
【发布单位】: 美国国家标准学会(ANSI)
【起草单位】:
【标准类型】: ()
【标准水平】: ()
【中文主题词】:
【英文主题词】: semiconductor engineering;optoelectronics;electronic engineering;lasers;current rates
【摘要】: Provides standard measurement techniques for semiconductor lasers.
【中国标准分类号】: L51
【国际标准分类号】: 31_260
【页数】:
【正文语种】: 英语

关键字: ANSITIAEIA 455-

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