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IEC 60147-0F-1982 第6次补充
世界资料网 / 2020-07-17
【英文标准名称】: Essential ratings and characteristics of semiconductor devices and general principles of measuring methods.
【原文标准名称】: 第6次补充
【标准号】: IEC 60147-0F-1982
【标准状态】: 作废
【国别】: 国际
【发布日期】: 1982
【实施或试行日期】:
【发布单位】: 国际电工委员会(IEC)
【起草单位】: IEC/TC 47
【标准类型】: ()
【标准水平】: ()
【中文主题词】: 电气工程;测量;术语;半导体;极限(数学);特性;定义;半导体器件;电子工程;电子设备及元件
【英文主题词】: semiconductor devices;properties;definitions;limits (mathematics);semiconductors;terminology;measurement;electronic equipment and components;electronic engineering;electrical engineering
【摘要】:
【中国标准分类号】: L40
【国际标准分类号】: 2370
【页数】: 45P;A4
【正文语种】: 英语

关键字: IEC 6014

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