当前位置: 首页 > 协会标准 > IEC 国际电工委员会 > IEC 60068-2-82 Corrigendum 1-2009 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气组件用晶须试验方法.勘误表1
IEC 60068-2-82 Corrigendum 1-2009 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气组件用晶须试验方法.勘误表1

IEC 60068-2-82 Corrigendum 1-2009 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气组件用晶须试验方法.勘误表1

prev next

  • 商品货号:INFOEACH_80083
  • 商品品牌:国际电工委员会 IEC
    商品重量:0克
  • 上架时间:2020-08-08
    商品点击数:5374
  • 用户评价: comment rank 5
  • 本店售价:请咨询客服
  • 点击此处进入论坛自助下载

资料描述

【英文标准名称】: Environmental testing - Part 2-82: Tests - Test XW: Whisker test methods for electronic and electric components; Corrigendum 1
【原文标准名称】: 环境试验.第2-82部分:试验.试验XW1:电子和电气组件用晶须试验方法.勘误表1
【标准号】: IEC 60068-2-82 Corrigendum 1-2009
【标准状态】: 现行
【国别】: 国际
【发布日期】: 2009-12
【实施或试行日期】:
【发布单位】: 国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】: IEC/TC 91
【标准类型】: ()
【标准水平】: ()
【中文主题词】: 室温;基底材料;气候;气候试验;涂层;组件;电气元件;电子设备及元件;电工产品;环境试验;环境测试;精整;指导手册;材料缺陷;测量;测量技术;氧化;表面缺陷;表面不连续性;表层;试验室;试验;试验要求;锡;锡合金;须晶
【英文主题词】: Ambient temperature;Base materials;Climate;Climatic tests;Coatings;Components;Electrical components;Electronic equipment and components;Electrotechnical products;Environmental testing;Environmental tests;Finishes;Guide books;Material defect;Measurement;Measuring techniques;Oxidation;Surface defects;Surface discontinuities;Surface layer;Test chamber;Testing;Testing requirements;Tin;Tin alloys;Whisker
【摘要】:
【中国标准分类号】: L04
【国际标准分类号】: 19_040
【页数】: 1P;A4
【正文语种】: 英语

标签

相关资料