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IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009 分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法

IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009 分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法

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  • 商品品牌:国际电工委员会 IEC
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  • 上架时间:2020-08-14
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资料描述

【英文标准名称】: Discrete semiconductor devices and integrated circuits - Part 5-3: Optoelectronic devices - Measuring methods
【原文标准名称】: 分立半导体器件及集成电路.第5-3部分:光电元件.测量方法
【标准号】: IEC 60747-5-3 Edition 1.1-2009
【标准状态】: 现行
【国别】: 国际
【发布日期】: 2009-11
【实施或试行日期】:
【发布单位】: 国际电工委员会(IX-IEC)
【起草单位】: IEC/SC 47C
【标准类型】: ()
【标准水平】: ()
【中文主题词】: 频带宽度;暗电流;二极管;分立器件;显示装置;电性质和电现象;电子设备及元件;绝缘电阻;绝缘测试;集成电路;发光强度;测量;测量技术;光电子器件;光耦合器;光电二极管;辐射强度;半导体器件;试验
【英文主题词】: Bandwidths;Dark current;Diodes;Discrete devices;Display devices;Electrical properties and phenomena;Electronic equipment and components;Insulating resistance;Insulation test;Integrated circuits;Luminous intensity;Measurement;Measuring techniques;Optoelectronic devices;Photocouplers;Photodiodes;Radiant intensity;Semiconductor devices;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】: L55
【国际标准分类号】: 31_080_99;31_260
【页数】: 86P;A4
【正文语种】: 英语

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