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JIS B0091-2010 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义

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资料描述

【英文标准名称】: Interferometric measurement of optical elements and systems -- Terms and definitions of surface form and wavefront deformation tolerances
【原文标准名称】: 光学元件和光学系统的干涉测量.表面形式和波阵面变形公差的术语和定义
【标准号】: JIS B0091-2010
【标准状态】: 现行
【国别】:
【发布日期】: 2010-05-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】: 日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】: Technical Committee on Testing and Measurement Technology
【标准类型】: ()
【标准水平】: ()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】: N30
【国际标准分类号】: 37_020
【页数】: 18P;A4
【正文语种】: 日语

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